就
是
對
待
工
作
的
態(tài)
度
，
個(gè)產(chǎn)品，
對待每一
做到極致認(rèn)真
每一個(gè)零件
細(xì)
致
致
每一組數(shù)據(jù)
-
智能型HMDS真空系統(tǒng)（JS-HMDS90-AI）
-
潔凈烘箱，百級無塵烘箱
-
氮?dú)夂嫦?，精密充氮烘?/div>LCP熱處理烘箱，LCP纖維氮?dú)夂嫦?/div>熱風(fēng)循環(huán)真空烘箱，高溫?zé)犸L(fēng)真空烤箱HMDS預(yù)處理系統(tǒng)(JS-HMDS90 )智能型無塵無氧烘箱（PI烤箱）真空無氧固化爐，高溫?zé)o氧烘箱精密烤膠臺，高精度烘膠機(jī)超低溫試驗(yàn)箱，零下-120度高低溫箱
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步入式高低溫濕熱試驗(yàn)室，高低溫濕熱房
發(fā)布時(shí)間: 2021-09-26 13:42
步入式高低溫濕熱試驗(yàn)室，高低溫濕熱房產(chǎn)品簡介
步入式高低溫濕熱試驗(yàn)室，高低溫濕熱房模擬不同的氣候環(huán)境，提供大型溫濕度環(huán)境測試空間，測試工廠數(shù)量較多、體積較大的零件、半成品、成品等，廣泛應(yīng)用于航天工業(yè)、自動化零組件、汽車部件、電子電器件、塑膠、化工、制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品的耐熱、耐寒測試。
步入式高低溫濕熱試驗(yàn)室，高低溫濕熱房相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)：
1、GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
2、GB/T 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
3、GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
4、GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
5、GB/T 10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
6、GB/T 2423.1-2008 idt IEC 60068-2-1:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試
驗(yàn)A：低溫
7、GB/T 2423.2-2008 idt IEC 60068-2-2:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試
驗(yàn)B：高溫
8、GB/T 2423.3-2006 idt IEC 60068-2-78:2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法
試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)
9、GB/T 2423.4-2008 idt IEC 60068-2-30:2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)Db：
交變濕熱試驗(yàn)(12h+12h循環(huán))
10、GB/T 2424.5-2006 idt IEC 60068-3-5:2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)
11、GB/T 2424.6-2006 idt IEC 60068-3-6:2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度 濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)
步入式高低溫濕熱試驗(yàn)室，高低溫濕熱房技術(shù)參數(shù)：
1、內(nèi)部尺寸: 3.5×4.1×2.7（m）（深×寬×高）（可自定）
2、溫度范圍: -60℃～100℃
3、濕度范圍: 30～98％R.H
4、精度范圍: 溫度±0.1℃、濕度±1％R.H
5、溫度偏差：±2℃
6、濕度偏差：±3.0%RH(>75%RH)，±5.0%RH(≤75%RH)
7、控制儀表：日本優(yōu)易控7寸觸摸屏儀表控制
8、冷卻方式：水冷
9、電源及功率: AC380（±10%）V/50HZ 三相五線制 額定功率:約62KW
10、環(huán)境溫度: 5℃～＋28℃（24小時(shí)內(nèi)平均溫度≤28℃）
11、環(huán)境濕度: ≤85%
步入式高低溫濕熱試驗(yàn)室，高低溫濕熱房模擬不同的氣候環(huán)境，提供大型溫濕度環(huán)境測試空間，測試工廠數(shù)量較多、體積較大的零件、半成品、成品等，廣泛應(yīng)用于航天工業(yè)、自動化零組件、汽車部件、電子電器件、塑膠、化工、制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品的耐熱、耐寒測試。
步入式高低溫濕熱試驗(yàn)室，高低溫濕熱房相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)：
1、GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
2、GB/T 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
3、GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
4、GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
5、GB/T 10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
6、GB/T 2423.1-2008 idt IEC 60068-2-1:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試
驗(yàn)A：低溫
7、GB/T 2423.2-2008 idt IEC 60068-2-2:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試
驗(yàn)B：高溫
8、GB/T 2423.3-2006 idt IEC 60068-2-78:2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法
試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)
9、GB/T 2423.4-2008 idt IEC 60068-2-30:2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)Db：
交變濕熱試驗(yàn)(12h+12h循環(huán))
10、GB/T 2424.5-2006 idt IEC 60068-3-5:2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)
11、GB/T 2424.6-2006 idt IEC 60068-3-6:2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度 濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)
步入式高低溫濕熱試驗(yàn)室，高低溫濕熱房技術(shù)參數(shù)：
1、內(nèi)部尺寸: 3.5×4.1×2.7（m）（深×寬×高）（可自定）
2、溫度范圍: -60℃～100℃
3、濕度范圍: 30～98％R.H
4、精度范圍: 溫度±0.1℃、濕度±1％R.H
5、溫度偏差：±2℃
6、濕度偏差：±3.0%RH(>75%RH)，±5.0%RH(≤75%RH)
7、控制儀表：日本優(yōu)易控7寸觸摸屏儀表控制
8、冷卻方式：水冷
9、電源及功率: AC380（±10%）V/50HZ 三相五線制 額定功率:約62KW
10、環(huán)境溫度: 5℃～＋28℃（24小時(shí)內(nèi)平均溫度≤28℃）
11、環(huán)境濕度: ≤85%
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